SRAM型FPGA单粒子效应逐位翻转故障注入方法

作     者：宋凝芳 秦姣梅 潘雄 江云天 

作者机构：北京航空航天大学仪器科学与光电工程学院北京100191 第二炮兵装备研究院北京100085 

基　　金：国家自然科学基金资助项目(61007040) 

出 版 物：《北京航空航天大学学报》 (Journal of Beijing University of Aeronautics and Astronautics)

年 卷 期：2012年第38卷第10期

页      码：1285-1289页

摘      要：针对SRAM(Static Random Access Memory)型FPGA(Field Programmable GateArray)空间应用的可靠性评测问题,提出一种逐位翻转的故障注入试验方法,利用动态重配置技术,通过检测逻辑电路设计配置存储单元中的单粒子翻转敏感位数量和位置,可计算出动态翻转截面和失效率,绘出可靠度变化曲线.分别对采用TMR(Triple Modular Redundancy)防护设计的和未采用TMR防护设计的SRAM型FPGA乘法器模块进行了故障注入试验,验证了得到的敏感位位置的正确性,并计算出各自的可靠性参数和曲线.

主 题 词：故障注入 单粒子翻转 动态重配置 

学科分类：08[工学] 082504[082504] 0825[工学-环境科学与工程类] 

核心收录：

D　O　I：10.13700/j.bh.1001-5965.2012.10.008

馆 藏 号：203719392...