基于频谱分析原理减小TOFD检测近表面盲区的方法

作     者：张树潇 谢雪 刘丽丽 罗忠兵 杨会敏 张东辉 林莉 张贵锋 

作者机构：大连理工大学材料科学与工程学院辽宁大连116024 核工业工程研究设计有限公司北京101601 

基　　金："十二五"国防技术基础科研项目(Z0220120001) 

出 版 物：《无损探伤》 (Nondestructive Testing Technology)

年 卷 期：2013年第37卷第6期

页      码：20-21,26页

摘      要：提出了一种利用频谱分析法从超声衍射时差法(TOFD)检测中直通波与缺陷上尖端衍射波混叠波形中提取缺陷位置信息,进而确定缺陷埋深的方法。对厚度为35mm的碳钢试块中埋深5mm的底面开口槽进行了实验测试,效果较好。分析表明,在本文采用的检测参数下,利用该方法理论上可将近表面盲区深度从8.3mm减小至3mm。并进一步讨论了该方法在减小TOFD近表面盲区问题中的适用范围、优点与局限性。

主 题 词：超声衍射时差法 盲区 频谱分析 

学科分类：08[工学] 080502[080502] 0805[工学-能源动力学] 

D　O　I：10.3969/j.issn.1671-4423.2013.06.006

馆 藏 号：203719843...