SOC测试时间与测试功耗协同优化

作     者：汪滢 许东宁 

作者机构：沈阳化工学院信息工程学院沈阳110142 

基　　金：基金申请人:汪滢 项目名称:模数混合集成电路低功耗设计与测试 基金颁发部门:辽宁省教育厅(20080580) 

出 版 物：《微计算机信息》 (Control & Automation)

年 卷 期：2009年第25卷第32期

页      码：27-29页

摘      要：本文针对具有柔性结构的SoC总线测试系统,将面向TAM总线的测试时间与测试功耗优化问题转化为SoC测试矩形排样问题,并针对SoC测试的具体情况,提出了"时间区间-空闲带宽"排样算法和双矩形排样算法。同时,利用单亲遗传算法将SoC测试矩形排样问题转化为排列问题,并用"时间区间-空闲带宽"排样算法和双矩形排样算法将排列转化为相应的排样图,之后将单亲遗传算法应用到SoC测试矩形排样问题中,解决了测试时间与测试功耗协同优化问题。

主 题 词：遗传算法 测试存取机制(TAM) IP核测试时间 测试功耗 

学科分类：080903[080903] 0809[工学-计算机类] 08[工学] 

馆 藏 号：203726857...