大型复杂电子系统的紧缩可靠性试验解决方案

作     者：马跃进 汪凯蔚 沈峥嵘 黄永华 MA Yuejin;WANG Kaiwei;SHEN Zhengrong;HUANG Yonghua

作者机构：中国人民解放军93131部队北京100089 工业和信息化部电子第五研究所广东广州510610 

基　　金：广东省科技厅项目“工业装备环境可靠性设计与试验创新中心能力建设项目”(2017KZ010107) “国家电子信息产品可靠性与环境工程技术研究中心培育”项目(2017B090903006)资助 

出 版 物：《电子产品可靠性与环境试验》 (Electronic Product Reliability and Environmental Testing)

年 卷 期：2019年第37卷第4期

页      码：6-10页

摘      要：讨论了一类组成复杂、组件之间独立工作、组件的失效率不随系统规模变化的大型系统的紧缩可靠性试验解决方案,通过严格的数学推导,证明了该紧缩系统试验方案与全系统开展试验是完全等效的。该方案弥补了基于可靠性分配的可靠性试验方案的不足,给出了紧缩系统的紧缩原则,实现了通过紧缩系统试验直接评价全系统可靠性水平的目标,具有一定的工程应用价值。

主 题 词：紧缩系统 可靠性试验方案 复杂电子系统 

学科分类：07[理学] 070104[070104] 0701[理学-数学类] 

D　O　I：10.3969/j.issn.1672-5468.2019.04.002

馆 藏 号：203727127...