利用异步采样电路提高SRAM工艺FPGA的设计安全性

作     者：陈文涛 金德鹏 曾烈光 

作者机构：清华大学电子工程系微波与数字通信重点实验室北京100084 

出 版 物：《电子技术应用》 (Application of Electronic Technique)

年 卷 期：2006年第32卷第7期

页      码：90-92,96页

摘      要：提出了一种利用外接CPLD提高SRAM工艺FPGA设计安全性的方法。该方法利用异步采样电路的不确定性生成随机序列,并且每次上电都产生不同的随机序列,断绝了剽窃者通过克隆序列对系统进行破解的可能性。此外,芯片之间通信采用了M序列加密,以进一步增强系统的安全性。

主 题 词：SRAM 工艺FPGA 设计安全性 异步采样电路 M序列 

学科分类：080902[080902] 0809[工学-计算机类] 08[工学] 081201[081201] 0812[工学-测绘类] 

D　O　I：10.16157/j.issn.0258-7998.2006.07.035

馆 藏 号：203732193...