霍耳效应原理测磁场时所引起的误差分析及其消除方法

作     者：刘昶丁 柳纪虎 

作者机构：兰州大学物理系 

出 版 物：《半导体技术》 (Semiconductor Technology)

年 卷 期：1989年第5卷第6期

页      码：42-43,17页

摘      要：用半导体在磁场中的霍耳效应原理直接测量磁场强度(或空间磁感应强度),在目前是二种应用很广泛的方法.如国内外厂家已生产的多种型号的高斯计等仪器,都是利用上述原理研制成的.我们在自行设计这方面的线路时,对一些引起误差因素及其消除方法作了分析和探讨.

主 题 词：霍耳效应 磁场 测量 误差 消除 

学科分类：0809[工学-计算机类] 08[工学] 

D　O　I：10.13290/j.cnki.bdtjs.1989.06.014

馆 藏 号：203747231...