面向低功耗BIST的VLSI可测性设计技术

作     者：宋慧滨 史又华 

作者机构：东南大学 

出 版 物：《电子器件》 (Chinese Journal of Electron Devices)

年 卷 期：2002年第25卷第1期

页      码：101-104页

摘      要：随着手持设备的兴起和芯片对晶片测试越来越高的要求 ,内建自测试的功耗问题引起了越来越多人的关注。本文对目前内建自测试的可测性设计技术进行了分析并对低功耗的 VL SI可测性设计技术的可行性和不足分别进行了探讨。在文章的最后简单介绍了笔者最近提出的一种低功耗

主 题 词：低功耗测试 内建自测试 故障覆盖率 VLSI 集成电路 可测性设计 

学科分类：080903[080903] 0809[工学-计算机类] 08[工学] 

D　O　I：10.3969/j.issn.1005-9490.2002.01.024

馆 藏 号：203750962...