一种基于数据总线的测试结构(英文)

作     者：王澍 毛武晋 陆生礼 WANG Shu;MAO Wujin;LU Shengli

作者机构：东南大学国家专用集成电路工程技术研究中心南京210096 

出 版 物：《电子器件》 (Chinese Journal of Electron Devices)

年 卷 期：2003年第26卷第1期

页      码：46-51页

摘      要：复用数据总线作为测试传输机构的测试结构可以大大减小可测性设计的面积开销。因此 ,提出了一种针对该结构的测试包设计新方法 :通过对测试包中与测试传输机构相连的测试包单元和相连的测试包单元分别设计 ,使前者设计成可寻址的测试数据缓冲器 ,从而构建了一种复用数据总线作为测试传输机构的新测试结构。由此让该结构具备了硬件开销小 ,测试过程控制简单 。

主 题 词：嵌入式芯核 测试传输机构 测试包 扫描链 测试矢量 

学科分类：0810[工学-土木类] 08[工学] 080401[080401] 0804[工学-材料学] 080402[080402] 0835[0835] 081002[081002] 

D　O　I：10.3969/j.issn.1005-9490.2003.01.012

馆 藏 号：203751974...