IEEE 1149.1标准与边界扫描技术

作     者：于宗光 

作者机构：中国电子科技集团公司第58研究所江苏无锡214035 

出 版 物：《电子与封装》 (Electronics & Packaging)

年 卷 期：2003年第3卷第5期

页      码：40-47页

摘      要：本文首先分析了集成电路可测性设计的必要性,接着介绍了边界扫描的基本结构、IEEE1149.1标准及指令寄存器、数据寄存器,分析了边界扫描的工作过程,介绍了基本的扫描寄存器结构,最后给出了系统集成可测性设计的策略。

主 题 词：IC 可测性 边界扫描 内建自测试 系统集成 

学科分类：080903[080903] 0809[工学-计算机类] 08[工学] 

D　O　I：10.3969/j.issn.1681-1070.2003.05.012

馆 藏 号：203755834...