基于STM32的电能质量检测技术研究

作     者：郑一维 李长俊 吴讯驰 陈尚松 Zheng Yiwei;Li Changjun;Wu Xunchi;Chen Shangsong

作者机构：桂林电子科技大学TCR研究室桂林541004 华南理工大学自动化科学与工程学院广州510641 

出 版 物：《国外电子测量技术》 (Foreign Electronic Measurement Technology)

年 卷 期：2011年第30卷第6期

页      码：72-74,78页

摘      要：目前国内外已有多种检测电能质量的方法,介绍了一种基于ARM Cortex-M3内核的32位处理器STM32内嵌式智能仪器模式设计的方案。利用STM32内置A/D以及ATT7022B芯片对信号进行多通道采集,对各电能参数进行检测和分析。运用处理器自带的SD卡和USB接口对所测大量数据进行存储和传输,并通过彩色液晶屏实时显示所测数据,检测设备间通过2.4 G无线通信模块进行数据交换。实际运行表明该设备操作简单、技术指标完全符合国家相关标准,具有较好的应用、推广价值。

主 题 词：电能质量检测 内嵌式智能仪器 STM32微处理器 

学科分类：08[工学] 081101[081101] 0811[工学-水利类] 081102[081102] 

D　O　I：10.3969/j.issn.1002-8978.2011.06.022

馆 藏 号：203756106...