基于扩展的关联模型的测试性分析技术研究

作     者：杨鹏 邱静 刘冠军 YANG Peng;QIU Jing;LIU Guan-jun

作者机构：国防科技大学机电工程与自动化学院湖南长沙410073 

基　　金：国家"十一五"部委基金资助课题(51317040102) 

出 版 物：《系统工程与电子技术》 (Systems Engineering and Electronics)

年 卷 期：2008年第30卷第2期

页      码：371-374页

摘      要：关联模型由信息流图和故障-测试关联矩阵两部分构成,该模型广泛应用于系统级的测试性分析与设计。为了便于分析反馈环路、故障传播的层次性、解析冗余测试等测试性参数,文章在故障-测试关联矩阵的基础上,构建了故障-故障关联矩阵和测试-测试关联矩阵,得到扩展的关联模型,并基于扩展的关联模型建立了模糊组、反馈环路、解析冗余测试、隐含故障、伪故障等测试性参数的数学模型,最后利用案例演示了扩展关联建模和测试性分析过程。

主 题 词：测试性设计 测试性分析 扩展的关联模型 信息流图 关联矩阵 

学科分类：08[工学] 0835[0835] 0802[工学-机械学] 080201[080201] 

核心收录：

D　O　I：10.3321/j.issn:1001-506X.2008.02.043

馆 藏 号：203757875...