针对JTAG调试的RTL验证环境设计原理

作     者：韩可 邓中亮 施乐宁 吕良 Han Ke;Deng Zhongliang;Shi Lening;Lv liang

作者机构：北京邮电大学电子工程学院北京100876 北京航空航天大学电子信息工程学院北京100083 

出 版 物：《电子测量技术》 (Electronic Measurement Technology)

年 卷 期：2008年第31卷第1期

页      码：72-76,87页

摘      要：以ARM7TDMI为例提出了一种在RTL仿真时即可进行JTAG调试的方法。利用该方法在RTL仿真时即可进行ARM的JTAG调试。首先详细分析了JTAG的边界扫描标准及工作原理,而后以ARM7TDMI为例分析了ARM的扫描链的设计原理及控制方法,从中给出了如何利用JTAG控制ARM7TDMI扫描链来完成ARM的行为控制。该方法还可以通过ARM的控制进而完成对SoC中其他模块的验证。通过该原理建立JTAG接口软仿真验证平台,可以在RTL仿真时验证ARM的JTAG调试功能以及SoC的初步测试。

主 题 词：JTAG ARM7TDMI 系统芯片 RTL验证 

学科分类：080902[080902] 0809[工学-计算机类] 08[工学] 

D　O　I：10.3969/j.issn.1002-7300.2008.01.023

馆 藏 号：203763420...