存储器内建自测试技术在芯片设计中的应用

作     者：殷弼君 黄伟平 YIN Bi-jun;HUANG Wei-ping

作者机构：华东计算技术研究所上海200233 

出 版 物：《计算机工程》 (Computer Engineering)

年 卷 期：2008年第34卷第B9期

页      码：122-124页

摘      要：针对SoC芯片中存储器模块的测试问题,在结合设计工具的基础上,提出了存储器的测试结构和方法,并且讨论了存储器模型的应用与调试。

主 题 词：可测性设计 存储器内建自测试 双端口寄存器堆文件 

学科分类：081203[081203] 08[工学] 0835[0835] 0812[工学-测绘类] 

核心收录：

D　O　I：10.3969/j.issn.1000-3428.2008.z1.045

馆 藏 号：203763626...