数字IC可测性设计及其EDA流程

作     者：李正光 雷加 

作者机构：怀化学院物理系湖南省怀化市418008 桂林电子工业学院电子工程系广西壮族自治区桂林市541004 

基　　金：国家部委项目资助 (4 13 2 3 0 2 0 10 9) 

出 版 物：《电子工程师》 (Electronic Engineer)

年 卷 期：2004年第30卷第4期

页      码：22-25页

摘      要：介绍了数字IC可测性设计 (DFT)的概念和方法及其在电子设计自动化 (EDA)环境中的实现流程。DFT实质上就是在设计时更改或添加设计结构和模块 ,使之能够满足测试的需要。它的目标包括 :所设计的电路和系统易于测试 ;由此设计所引起的附加硬件应尽可能少 ;电路的附加部分对原来电路的性能影响应尽可能少 ;设计方法的适应面要广。着重介绍了内建自测试DFT、内扫描DFT、边界扫描DFT、IEEEP15 0

主 题 词：可测性设计 电子设计自动化 嵌入式核 集成电路 

学科分类：080903[080903] 0809[工学-计算机类] 08[工学] 

D　O　I：10.3969/j.issn.1674-4888.2004.04.009

馆 藏 号：203767679...