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一种Nand Flash ECC校验设计及FPGA实现

一种Nand Flash ECC校验设计及FPGA实现

作     者:李泽明 杨燕姣 张会新 LI Zeming;YANG Yanjiao;ZHANG Huixin

作者机构:中北大学电子测试国家重点实验室山西太原030051 中北大学仪器科学与动态测试教育部重点实验室山西太原030051 

基  金:国家自然科学基金项目(61076111) 

出 版 物:《电视技术》 (Video Engineering)

年 卷 期:2013年第37卷第17期

页      码:73-75页

摘      要:基于汉明码设计了ECC校验算法,在基于FPGA的NAND Flash存储器上实现了纠错功能。该算法每4 kbyte生成3 byte ECC校验信息,能够检测双比特错误且纠正单比特错误,算法简单,占用硬件资源较少,提高了存储系统的可靠性,具有一定实用价值。

主 题 词:ECC FPGA Nand Flash 

学科分类:08[工学] 081201[081201] 0812[工学-测绘类] 

D O I:10.3969/j.issn.1002-8692.2013.17.021

馆 藏 号:203771229...

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