并发缺陷暴露、检测与规避研究综述

作     者：苏小红 禹振 王甜甜 马培军 SU Xiao-Hong;YU Zhen;WANG Tian-Tian;MA Pei-Jun

作者机构：哈尔滨工业大学计算机科学与技术学院哈尔滨150001 

基　　金：国家自然科学基金(61173021 61202092)资助 

出 版 物：《计算机学报》 (Chinese Journal of Computers)

年 卷 期：2015年第38卷第11期

页      码：2215-2233页

摘      要：当今普遍流行的多核架构使得硬并发成为现实.为了从硬件的并发能力获益,并发程序设计正越来越流行.然而由于内在的并发性和不确定性,并发程序易于遭遇并发缺陷,并且它们难以检测、调试和修复.文中指出软件开发正从顺序模式转向并发模式的趋势,揭示并发程序和并发缺陷各自的三大特点,剖析并发缺陷面临的三大挑战,然后将并发缺陷分为死锁、数据竞争、原子性违背和顺序违背4类,并讨论4类并发缺陷的相互关系,接着就如何尽快暴露、及时检测和高效规避各类并发缺陷对已有研究作出分析、比较和归纳,最后从智能快速的缺陷暴露、通用准确的缺陷检测、确定性重放支持、软硬件协同设计和新的并发编程模型等5个方面展望了未来的研究重点.

主 题 词：并发缺陷 死锁 数据竞争 原子性违背 顺序违背 程序分析 软件测试 

学科分类：08[工学] 0835[0835] 081202[081202] 0812[工学-测绘类] 

核心收录：

D　O　I：10.11897/sp.j.1016.2015.02215

馆 藏 号：203771960...