设计验证中的随机约束

作     者：刘杰 徐伟俊 夏宇闻 秦冀龙 

作者机构：北京航空航天大学 神州龙芯公司 

出 版 物：《中国集成电路》 (China lntegrated Circuit)

年 卷 期：2006年第15卷第11期

页      码：28-31,44页

摘      要：随机约束在现代集成电路验证中已得到国际IC设计业界的普遍认可,并逐渐开始普及。与传统的定向测试比较,它在验证效率、验证覆盖率等方面具有诸多优势。最新公布的SystemVerilogIEEE标准中,包含了对随机约束的支持。本文举例说明了随机约束的优点、使用方法及其与断言和功能覆盖率相辅相成的关系。目前国内已有一些设计单位开始将随机约束应用于设计验证中,本文的宗旨是介绍我们的成功经验以推动这种新的验证方法在国内的推广和普及。

主 题 词：随机约束 SystemVerilog 功能覆盖率 

学科分类：080903[080903] 0809[工学-计算机类] 08[工学] 

D　O　I：10.3969/j.issn.1681-5289.2006.11.005

馆 藏 号：203777139...