NI中国成功举办第二届“设计、验证及测试论坛”

出 版 物：《计算机测量与控制》 (Computer Measurement &Control)

年 卷 期：2005年第13卷第5期

页      码：i001-i001页

摘      要：本刊讯：2005年5月，NI公司于4月在上海国际会议中心成功主办第二届“设计、验证及测试论坛”(Design Validation Test Forum，即DVTF2005)，今年的主题为”测试紧跟设计的步伐”。本届论坛总共吸引了逾500住工程师、技术人员和院校教师参与此次盛会，其中97．1％的来宾表示”此次活动对他们的工作有所帮助”，70％将会推荐他们的同事参加明年的”设计、验证及测试论坛”。在此次论坛期间，NI提出了若干驱动虚拟仪器技术发展的主导商业技术，并着重强调了PCIExpress和FPGA这两项。

主 题 词：第二届 论坛 设计 测试 验证 PCIExpress 中国 国际会议中心 虚拟仪器技术 2005年 Forum NI公司 Test 技术人员 商业技术 FPGA 工程师 500 

学科分类：12[管理学] 1201[管理学-管理科学与工程类] 08[工学] 081201[081201] 0812[工学-测绘类] 

馆 藏 号：203777996...