基于EFSM的最小测试用例集生成方法

作     者：陈孔婷 王兴起 CHEN Kong-ting;WANG Xing-qi

作者机构：杭州电子科技大学计算机学院 

基　　金：浙江省自然科学基金项目(LQ16F020006、LY17F020023) 

出 版 物：《计算机工程与设计》 (Computer Engineering and Design)

年 卷 期：2019年第40卷第9期

页      码：2502-2506页

摘      要：影响测试成本的主要因素是测试用例集规模和测试用例的总长度,为降低测试成本,对测试用例生成技术进行研究,提出一种基于集合覆盖理论的最小测试用例集生成方法。设计迁移覆盖算法,其中引入关键迁移概念,设计最小测试用例集算法用于合并迁移覆盖算法输出的集合,得到最小测试用例集。实验结果表明,所提方法得到的最小测试用例集,降低了测试成本,提高了测试效率。

主 题 词：扩展有限状态机 最小测试用例集 迁移覆盖 测试成本 测试效率 

学科分类：08[工学] 0835[0835] 081202[081202] 0812[工学-测绘类] 

D　O　I：10.16208/j.issn1000-7024.2019.09.019

馆 藏 号：203778103...