C8051F020 MCU在核谱测量系统中的应用研究

作     者：周建斌 周蓉生 黄锦华 ZHOU Jian-bin;ZHOU Rong-sheng;HUANG Jin-hua

作者机构：成都理工大学应用核技术与自动化工程学院四川成都610059 

出 版 物：《核电子学与探测技术》 (Nuclear Electronics & Detection Technology)

年 卷 期：2005年第25卷第5期

页      码：515-518页

摘      要：利用高性能的C 8051F 020单片机设计了一种核谱测量系统,系统与微机连接实现了谱数据的实时采集。直接利用C 8051F 020已经封装的一个12位的100kH z的逐次逼近型ADC,两路12位的电压型DAC中的一路,片上的4k字节XRAM,加上过峰检测电路构成多道分析系统。利用C 8051F 020上ADC 0的差分输入,一路为输入信号,一路为DAC 0的输出,实现滑尺,可以明显地改善测量谱仪的微分非线性。用N aI(T l)探测器的信号作测试,实测了137C s的谱图。

主 题 词：滑尺 核谱测量 C8051F020 微分非线性 死时间 

学科分类：082704[082704] 0808[工学-自动化类] 0809[工学-计算机类] 08[工学] 0804[工学-材料学] 0827[工学-食品科学与工程类] 0703[理学-化学类] 1009[医学-法医学类] 0702[理学-物理学类] 

核心收录：

D　O　I：10.3969/j.issn.0258-0934.2005.05.016

馆 藏 号：203778151...