NI与泰克等主办设计、验证及测试论坛

出 版 物：《电子测试（新电子）》 (Micro-Electronics)

年 卷 期：2006年第9期

页      码：116-116页

摘      要：美国国家仪器中国有限公司（National Instruments，简称NI）宣布即将于今年9月21日在北京天鸿科园大酒店主办第三届DVTF活动。除了自动化测试主题以外，嵌入式系统设计也将成为今年的亮点。

主 题 词：嵌入式系统设计 自动化测试 美国国家仪器中国有限公司 Instruments 主办 泰克 NI 论坛 

学科分类：08[工学] 081201[081201] 0812[工学-测绘类] 

馆 藏 号：203778431...