微网探测器电子学噪声测试

作     者：陈雷 胡守扬 李笑梅 

作者机构：中国原子能科学研究院 

基　　金：国家重点研发计划项目资助项目(2016YFA0400300) 国家自然科学基金资助项目(11775313) 

出 版 物：《电子世界》 (Electronics World)

年 卷 期：2019年第17期

页      码：104-104页

摘      要：引言:研究无中微子双贝塔衰变现象的PandaX-III实验使用科大提供的通用读出电子学进行数据采集工作。实验中使用在原子能院为PandaX-III实验建立的探测器测试平台中测试电子学与bulk Micromegas(微网探测器)连接的噪声水平,测试给出了在调试探测器的过程中降低噪声的一些方法以及所有通道RMS(均方根偏差)分布图。实验表明电子学信号RMS平均值在9ADC。等效噪声电荷为0.23fC,满足设计需求。PandaX-III实验设计的电子学系统在噪声采集方面工作正常,为下一步使用电子学测试探测器坏道分布,增益均匀性等性能参数的测量创造了良好的使用条件。

主 题 词：读出电子学 噪声测试 探测器 微网 实验设计 均方根偏差 电子学系统 增益均匀性 

学科分类：080904[080904] 0810[工学-土木类] 0809[工学-计算机类] 08[工学] 080402[080402] 0804[工学-材料学] 081001[081001] 

D　O　I：10.19353/j.cnki.dzsj.2019.17.057

馆 藏 号：203779736...