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存储测试系统的USB接口设计

存储测试系统的USB接口设计

作     者:王代华 宋林丽 张志杰 WANG Dai-hua;SONG Lin-li;ZHANG Zhi-jie

作者机构:中北大学仪器科学与动态测试教育部重点实验室山西太原030051 

出 版 物:《现代电子技术》 (Modern Electronics Technique)

年 卷 期:2012年第35卷第11期

页      码:133-135页

摘      要:针对存储测试系统的高速数据传输需求,设计了以单片机和FT245R为核心器件的USB接口电路,替代了传统的并行/串行接口。设计的USB接口支持USB 2.0协议,具有体积小、通用性好、操作简单、使用方便等特点,数据传输率达到1MB/s,满足了存储测试系统的数据传输率要求。

主 题 词:USB 存储测试技术 FT245R 接口 

学科分类:080903[080903] 0809[工学-计算机类] 08[工学] 

D O I:10.16652/j.issn.1004-373x.2012.11.049

馆 藏 号:203780756...

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