堆外核测量用裂变电离室铀膜均匀性研究

作     者：孙光智 任才 毛从吉 张宓 李树成 刘文臻 曾乐 邱顺利 程辉 冯红艺 徐玲 王益元 SUN Guangzhi;REN Cai;MAO Congji;ZHANG Mi;LI Shucheng;LIUWenzhen;ZENG Le;QIU Shunli;CHENG Hui;FENG Hongyi;XU Ling;WANG Yiyuan

作者机构：武汉第二船舶设计研究所武汉430064 生态环境部核与辐射安全中心北京100082 国核自仪系统工程有限公司上海200241 

基　　金：国家科技重大专项课题(No.2019ZX06002012)资助 

出 版 物：《核技术》 (Nuclear Techniques)

年 卷 期：2019年第42卷第9期

页      码：81-87页

摘      要：堆外核测量用裂变电离室铀膜厚度的均匀性对其测量准确性影响甚大,因此有必要探索适当的电镀工艺及检验方法,本文在对堆外核测量用裂变电离室铀膜厚度及分布特性研究的基础上,建立了一套能够用于裂变电离室圆筒形电极内壁铀膜厚度分布测量的装置,并利用该装置测量了采用竖直静置和水平动态两种工艺电镀的电极内部的铀膜厚度分布情况,对比分析了两种电镀工艺下铀膜成膜机理及分布差异原因,理论分析与实验结果吻合,可用于指导裂变电离室的生产工艺控制。

主 题 词：裂变电离室 电镀 铀膜厚度 半导体探测器 

学科分类：082704[082704] 08[工学] 0827[工学-食品科学与工程类] 

核心收录：

D　O　I：10.11889/j.0253-3219.2019.hjs.42.090603

馆 藏 号：203781001...