场景采样率与推扫方向对亚像元线目标仿真的影响
作者机构：中国科学院国家空间科学中心复杂航天系统电子信息技术重点实验室北京101499 北京航空航天大学电子信息工程学院北京100191
基 金：国家自然科学基金(41604152) 中国科学院复杂航天系统电子信息技术重点实验室开放课题
出 版 物：《红外与激光工程》 (Infrared and Laser Engineering)
年 卷 期：2019年第48卷第9期
页 码：263-271页
摘 要：为准确模拟星载光学遥感图像中的亚像素线目标,分析了场景采样率、传感器推扫方向对仿真结果的影响。针对两种因素进行理论分析、仿真试验,推导星地点坐标对应关系,使用Hough变换描述线目标的显著程度和空间分布,利用数据框架分析结果。结论表明:当推扫方向与线目标夹角在0°、90°附近变化时,混叠误差明显增大导致线的显著度下降、伪线数增加;夹角在45°附近仍存在混叠,但结果相比更具鲁棒性;采样率增加可以一定范围内提升线的显著度,但不能改变降质模糊引起的空间分布误差。结果可用于仿真置信度评估,并为模型设计提供参考。
主 题 词：星载光学遥感 图像生成 线目标 Hough变换 数据框架
学科分类：0810[工学-土木类] 08[工学] 081002[081002] 0825[工学-环境科学与工程类]
核心收录：
D O I：10.3788/IRLA201948.0926001
馆 藏 号：203784714...
