基于光线追迹的红外探测光学系统杂散辐射研究

作     者：张发强 张维光 万文博 Zhang Faqiang;Zhang Weiguang;Wan Wenbo

作者机构：西安工业大学光电工程学院 

基　　金：陕西省教育厅重点实验室科研计划项目(17JS051) 

出 版 物：《红外与激光工程》 (Infrared and Laser Engineering)

年 卷 期：2019年第48卷第9期

页      码：62-67页

摘      要：杂散辐射分析与抑制是红外探测光学系统设计的重要环节,杂散辐射增加了系统的噪声,降低了红外探测系统对目标的探测能力。首先对红外探测系统杂散辐射源进行了分析,对基于光线追迹的杂散辐射分析理论进行了介绍,并结合具体的红外探测光学系统实例,提出了反向光线追迹的思路,分析系统关键表面的特性,提出了给机械表面涂覆吸收膜的方法来抑制系统的杂散辐射,分析结果满足杂散辐射抑制的要求。

主 题 词：红外探测光学系统 杂散辐射 反向光线追迹 关键表面 

学科分类：0808[工学-自动化类] 080901[080901] 0809[工学-计算机类] 08[工学] 080401[080401] 0804[工学-材料学] 0802[工学-机械学] 0825[工学-环境科学与工程类] 0704[理学-天文学类] 0803[工学-仪器类] 0702[理学-物理学类] 

核心收录：

D　O　I：10.3788/IRLA201948.0904006

馆 藏 号：203786232...