8位RISC_CPU可测性设计

作     者：邢万 俞珍传 贺磊 陆锋 XING Wan;YU Zhen-chuan;HE Lei;LU Feng

作者机构：江南大学信息工程学院无锡214122 立信职教中心校无锡214063 中国电子科技集团第58研究所无锡214035 

出 版 物：《微计算机信息》 (Control & Automation)

年 卷 期：2009年第25卷第5期

页      码：279-280,141页

摘      要：本文介绍了一款RISC_CPU的可测性设计,为了提高芯片的可测性,采用了扫描设计和存储器内建自测试,这些技术的使用为该芯片提供了方便可靠的测试方案。

主 题 词：可测性设计 扫描单元 内建自测试 

学科分类：080903[080903] 0809[工学-计算机类] 08[工学] 

D　O　I：10.3969/j.issn.1008-0570.2009.05.116

馆 藏 号：203794488...