紫外通讯用真空型光电探测组件的日盲性能分析

作     者：杨杰 张晓兵 赵文锦 YANG Jie;ZHANG Xiaobing;ZHAO Wenjin

作者机构：东南大学电子科学与工程学院南京210096 南京电子器件研究所南京210016 

出 版 物：《光电子技术》 (Optoelectronic Technology)

年 卷 期：2014年第34卷第3期

页      码：154-157页

摘      要：分别用光谱测试系统和分光光度计对组成真空型光电探测组件的探测器光电阴极光谱响应和紫外滤光片的透射谱进行测试,并通过对两项测试数据的综合分析来评价组件的日盲性能。设计制作了一套可直观评价日盲性能的系统,指出实现真正日盲紫外探测的理想途径。

主 题 词：紫外通讯 日盲性能 紫外滤光片 光谱响应 透射谱 

学科分类：08[工学] 0803[工学-仪器类] 

D　O　I：10.3969/j.issn.1005-488X.2014.03.003

馆 藏 号：203797463...