看过本文的还看了

相关文献

该作者的其他文献

文献详情 >可选择型低值电容标准的研究 收藏
可选择型低值电容标准的研究

可选择型低值电容标准的研究

作     者:张艳丽 迟洁茹 黄璐 LEE RAEDUK 齐福强 Zhang Yanli;Chi Jieru;Huang Lu;LEE READUK;Qi Fuqiang

作者机构:青岛大学自动化学院山东青岛266071 中国计量科学研究院北京100029 

基  金:国家自然科学基金资助项目(51207148 51207149) 

出 版 物:《电测与仪表》 (Electrical Measurement & Instrumentation)

年 卷 期:2015年第52卷第12期

页      码:46-51页

摘      要:在电磁计量和仪器仪表行业中,通常需要高稳定电容标准器装置对仪器设备进行量值检定校准以确保它们测量的准确性。可选择型低值电容就是一种可在同一系统中输出不同稳定微小电容值的标准器。针对该类电容器最大不确定度来源之一,即屏蔽栅通孔的边缘效应,文中采用3-D电场仿真对其进行了深入研究分析,同时依据仿真结果完成了一种可选择型低值电容标准器的整体结构设计,为其实际加工制作奠定了坚实的理论基础。

主 题 词:可选择型低值电容标准 3-D电场仿真 屏蔽栅 边缘效应 

学科分类:080801[080801] 0808[工学-自动化类] 08[工学] 

D O I:10.3969/j.issn.1001-1390.2015.12.009

馆 藏 号:203797568...

读者评论 与其他读者分享你的观点

用户名:未登录
我的评分