可重构技术在相位式测距系统中的应用

作     者：陈晚华 潘红兵 汪厚祥 

作者机构：华中科技大学电气与电子工程学院湖北武汉430074 海军工程大学湖北武汉430010 

出 版 物：《电子产品可靠性与环境试验》 (Electronic Product Reliability and Environmental Testing)

年 卷 期：2003年第21卷第1期

页      码：29-32页

摘      要：介绍了基于可重构技术的某测距系统的设计方案,简要分析了相位式测距的原理,研究了可重构FPGA在系统中的应用方法。

主 题 词：可重构技术 相位式测距系统 现场可编程门阵列 激光测距 原理 

学科分类：080901[080901] 0809[工学-计算机类] 08[工学] 080401[080401] 0804[工学-材料学] 0803[工学-仪器类] 

D　O　I：10.3969/j.issn.1672-5468.2003.01.008

馆 藏 号：203798128...