回望摩尔定律40年

作     者：望月洋介 草木 

作者机构：<日经电子> 

出 版 物：《电子设计应用》 (Electronic Design & Application World)

年 卷 期：2009年第7卷第9期

页      码：20-24页

摘      要：市场调研公司iSuppli于今年6月16日发表了一份报告指出,1965年出现的摩尔定律在20nm～18nm工艺之间仍然有效,但2014年达到18nm之后将很可能失效。报告中指出,摩尔定律的失效原因并不在于工艺的微细化无法继续,而是由于芯片制造成本过高,在产品生命周期内无法收回成本。而且,消费者也不需要速度如此之快的芯片,即芯片在实用性上已达到极限。无论如何,这在业界引发了一番热论。《日经电子》1000期纪念专辑的首篇文章就是《回望摩尔定律40年》。文章详尽介绍了摩尔定律的发展历史,并进行了展望,很有助于我们对摩尔定律的认知和思辨。因此,本期特刊载这篇文章与读者共享。

主 题 词：摩尔定律 产品生命周期 失效原因 制造成本 市场调研 发展历史 微细化 芯片 

学科分类：1305[艺术学-设计学类] 13[艺术学] 08[工学] 081201[081201] 0812[工学-测绘类] 

馆 藏 号：203804227...