大型双反射紧缩场幅相特性校准技术研究

作     者：马永光 杨金涛 吴翔 何鑫 黄承祖 黄建领 MA Yong-guang;YANG Jin-tao;WU Xiang;HE Xin;HUANG Cheng-zu;HUANG Jian-ling

作者机构：北京无线电计量测试研究所 

出 版 物：《宇航计测技术》 (Journal of Astronautic Metrology and Measurement)

年 卷 期：2019年第39卷第5期

页      码：1-4页

摘      要：紧缩场是天线、目标RCS测试的关键设备,它能在近距离内把馈源发出的球面波校准为准平面波。为评定紧缩场静区产生的电磁波分布是否符合准平面波特性,需要现场搭建高性能微波幅相收发系统和大型多自由度高精度扫描系统。本文以大型双反射面紧缩场静区性能校准需求为例,从现场计量幅相系统构建、大型复杂扫描系统设计、现场计量实施等方面详细分析了紧缩场静区性能现场校准相关技术。实测结果表明现场搭建的校准系统满足远距离大型双反射面紧缩场静区性能计量需求,各项检测参数量值均满足该紧缩场设计指标要求。

主 题 词：+紧缩场 +幅度 相位 校准技术 

学科分类：0809[工学-计算机类] 08[工学] 

D　O　I：10.12060/j.issn.1000-7202.2019.05.01

馆 藏 号：203806976...