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基于IEEE1149.4的混合信号边界扫描测试控制器设计

基于IEEE1149.4的混合信号边界扫描测试控制器设计

作     者:张西多 易晓山 胡政 Zhang Xiduo;Yi Xiaoshan;Hu Zheng

作者机构:国防科学技术大学机电工程研究所湖南长沙410073 

出 版 物:《计算机测量与控制》 (Computer Measurement &Control)

年 卷 期:2006年第14卷第5期

页      码:570-572页

摘      要:简要介绍了IEEE1149.4混合信号测试总线及其特点,并根据该标准定义的测试结构对混合信号电路的测试方法进行研究,设计出符合IEEE1149.4标准的边界扫描控制器及其验证电路,实验结果表明该测试控制器能实现对混合信号电路板的测试,大大提高了混合信号电路板的可观性和可控性。

主 题 词:边界扫描 可测试性 IEEE1149.4 混合信号 

学科分类:080202[080202] 08[工学] 0802[工学-机械学] 

D O I:10.3321/j.issn:1671-4598.2006.05.004

馆 藏 号:203809000...

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