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用于Raman光谱与微纳米结构同步检测的Raman-AFM系统研究

用于Raman光谱与微纳米结构同步检测的Raman-AFM系统研究

作     者:史斌 章海军 吴兰 张冬仙 SHI Bin;ZHANG Hai-jun;WU Lan;ZHANG Dong-xian

作者机构:浙江大学现代光学仪器国家重点实验室浙江杭州310027 

基  金:国家自然科学基金项目(11179026 51077117) 浙江省自然科学基金项目(Z1110196)资助 

出 版 物:《光谱学与光谱分析》 (Spectroscopy and Spectral Analysis)

年 卷 期:2012年第32卷第4期

页      码:993-996页

摘      要:研究和发展了一种将微区拉曼(Raman)光谱检测与原子力显微镜(AFM)微纳米扫描成像相结合的新型Raman-AFM技术。设计了Raman光谱与AFM扫描成像的原位检测探头;研制出相应的Raman-AFM系统;利用该系统,对ZnO纳米颗粒和TiO2纳米薄膜开展了微区Raman光谱与微纳米结构的检测实验。研究表明,所获得的Raman光谱检测结果与理论值良好吻合,同时,AFM扫描检测得到的图像很好地表征了样品的微纳米结构,从而实现了微区Raman光谱与AFM图像的原位及同步检测,验证了这一技术的可行性,为Raman光谱技术与微纳米技术领域的实际应用提供了技术基础。

主 题 词:Raman光谱 AFM 微区 原位 微纳米结构 

学科分类:08[工学] 0804[工学-材料学] 080402[080402] 0703[理学-化学类] 0702[理学-物理学类] 

核心收录:

D O I:10.3964/j.issn.1000-0593(2012)04-0993-04

馆 藏 号:203811363...

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