对霍耳效应原理在测量磁场中的误差分析及其消除方法探讨

作     者：柳纪虎 刘昶丁 

作者机构：兰州大学物理系 

出 版 物：《半导体技术》 (Semiconductor Technology)

年 卷 期：1991年第7卷第1期

页      码：54-56页

摘      要：前言 利用半导体在磁场中的霍耳效应原理直接测量磁场强度(或空间磁感应强度),是一种应用很广泛的方法。目前国内外厂家已研制和生产出多种型号的高斯计,都是利用上面原理制成的。由于该仪器价值较高,有许多高校因教学经费少,难以开出有关的实验题目。为此,我们自行设计和研制出“霍耳效应场强计”。该仪器线路简单、元件少、操作方便,稳定性好。现介绍于后,供同行们参考。

主 题 词：磁场测量 霍尔效应 误差分析 消除 

学科分类：080802[080802] 0808[工学-自动化类] 08[工学] 

D　O　I：10.13290/j.cnki.bdtjs.1991.01.014

馆 藏 号：203811716...