基于FPGA的集成电路测试系统设计

作     者：李妍臻 李烨 刘海 

作者机构：华南师范大学物理与电信工程学院 

出 版 物：《电子世界》 (Electronics World)

年 卷 期：2013年第7期

页      码：119-120页

摘      要：随着电路设计技术的不断发展,集成电路的测试对保证电路可靠性的作用日益增加。集成电路的测试不仅对确保电路的可靠性有重要作用,而且可以降低电路与系统的制造成本。本文是基于集成电路的逻辑功能测试理论,通过测试集成电路的逻辑功能是否正常来判断电路功能是否正常。实验结果表明,该系统测试便捷,准确,对于芯片的生产商和使用者都具有较重要的意义。

主 题 词：逻辑芯片 功能测试 FPGA MFC 

学科分类：080903[080903] 0809[工学-计算机类] 08[工学] 

馆 藏 号：203811786...