国产芯片自动测试系统射频测试模块设计

作     者：郑永丰 张贵恒 董阳 刁静 王奇之 Zheng Yongfeng;Zhang Guiheng;Dong Yang;Diao Jing;Wang Qizhi

作者机构：北京航天测控技术有限公司 

出 版 物：《计算机测量与控制》 (Computer Measurement &Control)

年 卷 期：2019年第27卷第10期

页      码：41-44,49页

摘      要：针对当前射频芯片性能不断增强和应用日益广泛的现状,同时为了满足5G射频芯片测试需求,结合当前国际先进芯片自动测试技术,重点对国产芯片自动测试系统射频测试模块开展设计;通过对当前市场常用射频芯片以及5G射频芯片测试需求研究,通过采用小型化设计优化矢量信号收发模块的性能;为解决测试频率不断升高带来的问题,设计中采用模块化变频设计来拓展芯片测试频率范围;同时设计4个射频信号通道,每个通道具有4个射频端口,最大能够对16个被测件进行测试,显著提高芯片测试效率;该系统能够完成50M^12GHz矢量信号发射和分析,同时具有噪声系数测试,S参数测量,双音信号生成等功能。

主 题 词：射频芯片自动测试系统 矢量信号生成和分析 S参数测试 噪声系数测量 

学科分类：0809[工学-计算机类] 08[工学] 

D　O　I：10.16526/j.cnki.11-4762/tp.2019.10.009

馆 藏 号：203818623...