功放芯片测试系统安全性设计与实现

作     者：丁志钊 单梅林 王盘伟 Ding Zhizhao;Shan Meilin;Wang Panwei

作者机构：中电科仪器仪表有限公司 中国电子科技集团公司第四十一研究所 

基　　金：国家重点研发计划重大科学仪器设备开发专项(2017YFF0106707) 

出 版 物：《上海计量测试》 (Shanghai Measurement and Testing)

年 卷 期：2019年第46卷第5期

页      码：2-5页

摘      要：针对功放芯片测试过程中所涉及的被测芯片、测试系统和测试数据等方面的安全性需求和实现难点,提出了基于时序控制和多线程监控的电源防护、基于小功率信号的测试通道连通性验证、基于断点记录的测试突发中断恢复和数据保护等测试安全性技术实现思路,并搭建了完整的测试验证系统。经试验验证表明:在实现接收增益、噪声系数等性能参数测试的基础上,功放芯片测试系统具有很好的测试安全性指标,在漏接或错接大功率测试附件、发生异常断电、上电顺序错误以及发生突发中断等异常情况下,可以很好地保护被测芯片、测试系统和测试数据的安全。

主 题 词：检测技术及自动化装置 功放芯片 测试安全性 供电安全 测试系统安全 测试数据安全 

学科分类：080903[080903] 0809[工学-计算机类] 08[工学] 

馆 藏 号：203820440...