模拟电路结构化可测性设计研究综述

作     者：赵振峰 戴昌培 

作者机构：北京自动测试研究所 

出 版 物：《微电子测试》 (Electronic Test)

年 卷 期：1995年第9卷第2期

页      码：8-13页

摘      要：本文说明模拟电路结构化可测性设计(DFT)的原则,同时介绍了两个可测性设计结构。这些原则和结构可以作为数模混合测试总线标准IEEE P1149.4的基础。

主 题 词：模拟电路 结构化 可测性设计 

学科分类：080902[080902] 0809[工学-计算机类] 08[工学] 

馆 藏 号：203824167...