一种智能卡电性能可靠性的测试方法

作     者：赵坤 时良平 Zhao Kun;Shi Liangping

作者机构：北京邮电大学自动化学院北京100876 

出 版 物：《电子测试》 (Electronic Test)

年 卷 期：2008年第19卷第3期

页      码：62-66页

摘      要：随着智能卡以其自身高效、安全、便捷的特点在众多领域的应用,人们对其可靠性的要求也越来越高,因此有效的可靠性测试显得尤为重要。本文主要以接触式智能卡为例针对智能卡可靠性测试的一方面——电性能测试提出一种方便可行的测试方法。该方法在总结智能卡测试方法标准ISO/IEC10373的基础上,改进了相关测试项测试方法,根据实际情况补充了漏灌电流测试并详细说明其测试方法。根据测试需要设计了电性能全覆盖测试的程序,自动生成电性能测试报告。

主 题 词：智能卡 电性能 可靠性 测试 

学科分类：080903[080903] 0809[工学-计算机类] 08[工学] 

D　O　I：10.3969/j.issn.1000-8519.2008.03.014

馆 藏 号：203824911...