基于IEEE Std 1500标准的SOC可测性设计研究

作     者：周银 周浔 陈圣俭 王月芳 Zhou Yin;Zhou Xun;Chen Shengjian;Wang Yuefang

作者机构：装甲兵工程学院控制工程系北京100072 装甲兵工程学院信息工程系北京10072 

基　　金：国家自然科学基金资助项目(60871029) 

出 版 物：《计算机测量与控制》 (Computer Measurement &Control)

年 卷 期：2012年第20卷第5期

页      码：1190-1193页

摘      要：集成电路深亚微米制造技术和设计技术的迅速发展,使得基于IP核复用的SOC设计技术得到越来越广泛的应用,但由于IP核的来源不同,设计标准的不兼容等因素,使得SOC的测试变得越来越困难;IEEE为解决SOC的测试问题提出了嵌入式芯核测试标准IEEE Std 1500,致力于建立标准化的IP核供应商和用户之间的测试接口,简化核测试信息的复用;文章详细介绍了IEEE Std 1500标准的测试架构,使用方法和核测试描述语言CTL,同时给出标准中提出的SOC可测性设计方法。

主 题 词：SOC IEEE Std 1500 IP核 边界扫描 测试 

学科分类：08[工学] 081201[081201] 0812[工学-测绘类] 

D　O　I：10.16526/j.cnki.11-4762/tp.2012.05.038

馆 藏 号：203826836...