EAST-NBI光电倍增管联锁保护系统设计

作     者：时超 刘智民 梁立振 刘伟 王艳 胡纯栋 SHI Chao;LIU Zhi-min;LIANG Li-zhen;LIU Wei;WANG-Yan;HU Chun-dong

作者机构：中国科学院等离子体物理研究所合肥230031 中国科学技术大学合肥230026 

基　　金：国家自然科学基金(11575240)资助 

出 版 物：《核电子学与探测技术》 (Nuclear Electronics & Detection Technology)

年 卷 期：2019年第39卷第4期

页      码：446-451页

摘      要：本文利用STM32芯片驱动电路设计了光电倍增管连锁保护系统。该系统具有探测杂散粒子谱线信号强度的能力,可以利用对于电离损失异常幅值的检测手段实现离子源电源的断电保护和远程上电复位的功能。测试结果表明,该系统可以电信号形式表现被测光信号的强度信息,具备在达到保护触发条件下快速(1 ms以内)实施离子源电源关断操作处理。

主 题 词：中性束注入 离子化 光电倍增管 联锁保护 STM32 

学科分类：082703[082703] 08[工学] 0827[工学-食品科学与工程类] 

馆 藏 号：203828760...