薄膜型热印头电特性的测试

作     者：陈德里 申云琴 张生才 潘善臻 

作者机构：天津大学300072 

出 版 物：《半导体杂志》 

年 卷 期：1996年第21卷第1期

页      码：5-8页

摘      要：本文对薄膜型热印头性能进行分析,重点讨论了热印头主要电特性——耐电脉冲冲击性能的测试原理、测试方法。同时,较详细地介绍了测试仪设计原理与电路。该测试方法也适用于厚膜型、混合型及其它类型热印头电特性测试及寿命估计。

主 题 词：热印头 耐电脉冲 薄膜型 打印装置 测试 

学科分类：08[工学] 081201[081201] 0812[工学-测绘类] 

馆 藏 号：203839769...