RAM的故障模型及自测试算法

作     者：李璇君 辛季龄 张天宏 刘国刚 Li Xuanjun;Xin Jiling;Zhang Tianhong;Liu Guogang

作者机构：南京航空航天大学动力工程系 

出 版 物：《南京航空航天大学学报》 (Journal of Nanjing University of Aeronautics & Astronautics)

年 卷 期：1999年第31卷第1期

页      码：48-53页

摘      要：通过对ＲＡＭ故障情况的全面、深入分析，建立了ＲＡＭ的功能故障模型。并在此基础上，提出一种全面、实用的故障自测试算法。该算法分三步完成测试：（１）测试ＲＡＭ中的固定为１（０）故障、固定开路故障、状态转换故障、数据保持故障及第一类耦合故障中的不相关耦合等故障；（２）测试第一类耦合故障中的相关耦合故障；（３）测试第二类耦合故障。对ＲＡＭ的故障注入试验验证了该算法的有效性。并将此算法应用于航空电子模拟器的ＢＩＴ（Ｂｕｉｌｔｉｎｔｅｓｔ）的设计中。

主 题 词：故障检测 故障模型 耦合故障 自测试算法 RAM 

学科分类：08[工学] 081201[081201] 0812[工学-测绘类] 

核心收录：

D　O　I：10.3969/j.issn.1005-2615.1999.01.009

馆 藏 号：203841297...