d-叉树k-FT结构的可靠性分析及冗余单元的分配

作     者：赵天绪 郝跃 周涤非 许冬岗 Zhao Tianxu;Hao Yue;Zhou Difei;Xu Donggang

作者机构：西安电子科技大学微电子研究所 

基　　金：国防科工委预研基金 国家863计划项目资助 

出 版 物：《西安电子科技大学学报》 (Journal of Xidian University)

年 卷 期：1999年第26卷第2期

页      码：197-200页

摘      要：随着芯片面积的增加及电路复杂性的增强，系统的可靠性逐渐下降．为了保证有较高的可靠性，人们将容错技术引进了集成电路的设计中．文中分析了ｄ－叉树的ｋ－ＦＴ结构的可靠性，同时讨论了如何分配冗余单元才能使系统具有较高可靠性的问题．

主 题 词：d-叉树 可靠性分析 覆盖因子 冗余单元分配 VLSI 

学科分类：080903[080903] 0809[工学-计算机类] 08[工学] 

核心收录：

D　O　I：10.3969/j.issn.1001-2400.1999.02.015

馆 藏 号：203841500...