大规模成像电子系统可靠性优化设计

作     者：马天波 Ma Tianbo

作者机构：中国科学院长春光学精密机械与物理研究所长春130033 

出 版 物：《仪器仪表学报》 (Chinese Journal of Scientific Instrument)

年 卷 期：2014年第35卷第S1期

页      码：82-86页

摘      要：为了保证大规模成像电子学系统的可靠性,同时尽可能降低研制成本,本文引入了遗传算法,首先,将大规模电子学系统细化为子系统、模块级的基本串并联形式,进行可靠性计算,综合考虑可选方案,设置约束条件,进行选择、交叉和变异操作找到最优适应度对应个体,即得到最佳优化方案。实验结果表明,遗传算法能很好的给出最优设计方案,以实际工程为例在节约成本的基础上能保证系统可靠性达到0.993以上,可应用于大规模电子系统可靠性方案设计的选取。

主 题 词：成像电子学 可靠性分析 优化设计 遗传算法 

学科分类：080901[080901] 0809[工学-计算机类] 08[工学] 

核心收录：

D　O　I：10.19650/j.cnki.cjsi.2014.s1.016

馆 藏 号：203850408...