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极低暗电流InGaAs MSM-PD的光电特性研究

极低暗电流InGaAs MSM-PD的光电特性研究

作     者:朱红卫 史常忻 陈益新 李同宁 

作者机构:上海交通大学微电子技术研究所上海200030 武汉电信器件公司武汉430074 

基  金:国家自然科学基金 

出 版 物:《Journal of Semiconductors》 (半导体学报(英文版))

年 卷 期:1997年第18卷第1期

页      码:22-26页

摘      要:本文首次采用双重肖特基势垒增强层技术,制作了InGaAsMSMS-PD光电探测器.实际结构表明:具有15nm的P-InP和100nmInP双重势垒增强层的器件极大地减小了暗电流,器件的暗电流均小于10nA,响应度为0.83A/W,FWHM为70ps,证明这是一种减小MSM-PD暗电流的有效设计方法.

主 题 词:光电探测器 双重势垒增强层 设计 

学科分类:08[工学] 0803[工学-仪器类] 

核心收录:

馆 藏 号:203855551...

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