NI推出全新的NI PXI半导体套件

出 版 物：《电子元器件应用》 (Electronic Component & Device Applications)

年 卷 期：2010年第12卷第1期

页      码：97-97页

摘      要：美国国家仪器有限公司（National Instruments．简称NI）发布10款最新PXI产品，有效扩展PXI进行混和信号半导体测试的功能。全新以软件定义的产品套件专为NI LabVIEW图形化开发系统而设计，包含四个高速数字I／O（HSDIO）仪器、两个数字开关、两个增强射频仪器、一个高精度源测量单元（SMU）和专用数字数字矢量文件导入软件。

主 题 词：PXI产品 半导体测试 美国国家仪器有限公司 NI Instruments 套件 LabVIEW 软件定义 

学科分类：080903[080903] 0809[工学-计算机类] 08[工学] 080501[080501] 0805[工学-能源动力学] 080502[080502] 081201[081201] 0812[工学-测绘类] 

馆 藏 号：203856568...