电子设备抗电磁脉冲性能验证流程制定方法研究

作     者：齐欢 张俊楠 陈曦 龙梁 周春晓 Qi Huan;Zhang Jun-nan;Chen Xi;Long Liang;Zhou Chun-xiao

作者机构：北京宇航系统工程研究所 

出 版 物：《导弹与航天运载技术》 (Missiles and Space Vehicles)

年 卷 期：2019年第6期

页      码：117-122页

摘      要：为了解决高空电磁脉冲进入电子设备后,影响电子设备正常工作甚至导致设备失效的问题,对电子系统的抗电磁脉冲性能可测试性的设计方法和测试流程开展研究,并提出能表征电子系统正常运行状态的测试流程设计方法,同时通过应用样例介绍了提出方法的应用方式。提出的测试流程设计方法可操作性高,已应用到某样机的具体流程设计中。结果表明:该流程的提出对电子设备抗高空电磁脉冲性能验证方法的制定具有一定的指导意义。

主 题 词：测试性 高空电磁脉冲 测试流程 

学科分类：082601[082601] 08[工学] 082501[082501] 0826[工学-生物医学工程类] 082602[082602] 0825[工学-环境科学与工程类] 

D　O　I：10.7654/j.issn.1004-7182.20190623

馆 藏 号：203857901...