潜在通路分析在自动测试系统中的应用研究

作     者：卢佩英 沈士团 孙宝江 Lu Peiying;Shen Shituan;Sun Baojiang

作者机构：北京航空航天大学电子信息工程学院北京100083 

出 版 物：《计算机测量与控制》 (Computer Measurement &Control)

年 卷 期：2006年第14卷第7期

页      码：847-849,866页

摘      要：以军用电子设备自动测试系统的可靠性设计要求为背景,在详细了解目前航空航天、军用系统等领域一项重要的可靠性分析与设计工具——潜在通路分析的相关技术基础上,研究了军用电子设备自动测试系统中潜在通路分析的必要性和可行性,提出并实践了在自动测试系统中进行潜在通路分析的方法,进而研究了在自动测试系统设计中实现潜在通路自动分析的方法。

主 题 词：潜在通路分析 自动测试系统 可靠性 

学科分类：0810[工学-土木类] 08[工学] 080401[080401] 0804[工学-材料学] 080402[080402] 0835[0835] 081002[081002] 

D　O　I：10.3321/j.issn:1671-4598.2006.07.003

馆 藏 号：203870637...